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半导体器件可靠性技术
(日)安食恒雄主编;日本松下电子工业株式会社编;周南生等译1991 年出版352 页ISBN:7560601669本书论述了影响半导体分立器件和集成电路可靠性问题的各种因素及其解决办法,并对正在研究的课题也作了介绍。
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初中习作与阅读 八年级 上
南生,文学著2008 年出版218 页ISBN:9787807602231本书以人教版教材为依据,根据单元目标设目标解析、思路点拨、佳作赏析、名家美文、单元自测等栏目,将语文的读、写、练相结合,增强学生的阅读分析能力,调动学生学习写作的积极性,提高学生学习语文的兴趣,让学生.....