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本书主要包括三部分:(一)基础实验。包括门电路静态测试和动态测试实验。(二)基本集成逻辑电路的功能与应用。包括一般的大、中、小规模集成电路(即TTL和CMOS)和可编程逻辑器件PLD(三)综合性(数字系统)实验。......