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数字系统测试与可测试设计
(美)阿布拉莫韦奇(Abramovici,M.)等著;李晓维等译2006 年出版449 页ISBN:7111192370本书系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测试性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片测试理论和方法。
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拔高总复习 高考历史复习指导 系统测试
全国著名特级高级教师联合编写;韩其海,曹广星,孙君薜本册主编;韩爱芹,陈宝玲,陈颖编2004 年出版162 页ISBN:7801140788 -
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