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电子元器件可靠性设计
王蕴辉,于宗光,孙再吉主编2007 年出版514 页ISBN:7030196384本书共有9章,内容涉及半导体集成电路、混合电路、分立半导体器件、连接器、继电器、电容器和微特电机等元器件的可靠性设计技术。
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本书共有9章,内容涉及半导体集成电路、混合电路、分立半导体器件、连接器、继电器、电容器和微特电机等元器件的可靠性设计技术。