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单板级JTAG测试技术
王承,刘治国编著2015 年出版205 页ISBN:9787118099867本书主要内容包括:基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。本书适合于相关领域工程技术人员阅读,也可作为高等院校电子信息、通信...
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