VLSI测试方法学和可测性设计

雷绍充，邵志标，梁峰著2005 年出版286 页ISBN：7121003791

本书系统介绍超大规模集成电路（VLSI）的测试方法学和的可测性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用之间建立一个.....