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电子元器件失效分析技术
工业和信息化部电子第五研究所组编;恩云飞,来萍,李少平编著;师谦,许广宁,何小琦,何胜宗等编写组成员2015 年出版455 页ISBN:9787121272301本选题是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、...
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