纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测

（美国）桑迪普K.戈埃尔，（印度）科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编；续海涛等译2016 年出版191 页ISBN：9787111521846

设计方法和工艺技术的革新使得集成电路的复杂度持续增加。现代集成电路（IC）的高复杂度和纳米尺度特征极易使其在制造过程中产生缺陷，同时也会引发性能和质量问题。本书包含了测试领域的许多常见问题，比如制程偏...