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半导体测试技术原理与应用
刘新福等编著2007 年出版304 页ISBN:7502441018本书讨论了微区电学参数测试的重要性,综述了当今已研究出来的各种半导体测试方法的特点;详细分析四探针测量技术的基本原理,重点讨论常规直线四探针法、改进范德堡法和改进Ry-inaszewski四探针测试方法;讨论测...
